Il met en œuvre un interféromètre intégré à guide d'onde bouclé, en SiN, qui crée une onde stationnaire à partir du signal reçu. Dessous sont disposés 24 nanofils supraconducteurs en NbN monocristallin qui échantillonnent spatialement les interférences à une longueur d'onde centrée sur 1,55µm. Par transformée de Fourier inverse, on peut reconstituer le spectre incident avec une résolution spatiale (170 nm), une rapidité et une sensibilité (très faible bruit) inégalées. Le travail du laboratoire, en collaboration avec l'Institut de Planétologie et d'Astrophysique de Grenoble, le CEA-Leti et l’IMEP a concerné la conception, l'implémentation des nanostructures optoélectroniques et supraconductrices intriquées, la fabrication (s’appuyant sur les plateformes du CEA-Leti, de l'INP-CIME et de la PTA) et la caractérisation par comptage de photon à 4,2K.
Sa capacité unique d'échantillonnage direct de franges d'interférences constitue une innovation majeure et ouvre aussi de nombreuses perspectives dans des domaines comme la métrologie, la cryptographie ou la tomographie optique.
Le cœur actif de la puce SWIFTS-SNSPD.
On distingue le substrat de saphir, le guide d'onde en SiN (horizontal), le réseau des 24 nanofils de NbN (largeur 47 nm, espacement 110 nm) et la zone de contact en Ti-Au (blanc).
Dimension 20 µm.