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Fait marquant

Synchrotron : haute-résolution spatiale et temporelle de l'émission de lumière de nanofils de semiconducteurs


​Le développement de nouvelles instrumentations synchrotron pour la fluorescence, la diffraction et la photoluminescence permet d'étudier des nano-objets avec de hautes résolutions spatiales (sub-100 nm) et temporelles (sub-50 ps) et ainsi de relier les aspects structuraux/chimiques à l'émission de lumière lorsque celle ci peut être générée par des rayons-X durs.

Publié le 10 mai 2014
Nous avons, lors d'une collaboration avec l'ESRF et l'Institut de Microélectronique de Madrid, démontré l'intérêt de ces nouvelles techniques, entre-autres, pour étudier le cas de puits quantiques cœur-coquille InGaN/GaN autour de fils de GaN utilisés dans des diodes électro-luminescentes. L'absorption de rayons-X de haute énergie génère une émission de lumière bleue qui peut être corrélée à la composition en indium dans les puits ainsi qu'à la position au centre ou au bord des facettes. La mesure résolue en temps de la décroissance du temps de déclin de l'émission de lumière bleue (environ 0,1 ns) induite par le flash de rayons X confirme l'efficacité du mécanisme radiatif de ces puits qui ne présentent pas de champ piezoélectrique grâce à leur orientation cristallographique.

Puits quantiques InGaN/GaN non polaires crûs sur les facettes de fils de GaN d'axe c.
Les faisceaux de rayons-X synchrotron de l'ESRF permettent dorénavant d'étudier l'émission de lumière de ces fils avec une haute résolution temporelle et spatiale. 

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